Fraunhofer CSP desarrolla nuevos métodos de investigación de infracciones de patentes para tecnologías fotovoltaicas

Fuente: https://www.pv-magazine.com/

El instituto de investigación alemán está trabajando en el desarrollo de métodos avanzados y de alta resolución para la caracterización de materiales y películas delgadas que puedan convertirse en un conjunto de procedimientos de medición simplificados y rápidos para uso rutinario en investigaciones de propiedad intelectual.

El Centro Fraunhofer para Fotovoltaica de Silicio de Alemania (Fraunhofer CSP) está desarrollando una gama de métodos de caracterización microscópica y nanoscópica de materiales y películas delgadas de alta resolución para utilizar en el análisis de infracción de patentes de productos solares fotovoltaicos de mayor eficiencia.

El trabajo forma parte de un proyecto conocido en Alemania como IP-Schutz. El proyecto, que se extenderá hasta marzo de 2027, ofrece a los investigadores el marco necesario para desarrollar técnicas experimentales como base para un servicio fiable en el campo de la propiedad intelectual (PI) y la investigación de infracciones de patentes para los socios y clientes del proyecto.

El resultado esperado es un conjunto de procedimientos de medición simplificados y rápidos para uso rutinario en investigaciones de propiedad intelectual, permitiendo obtener evidencia jurídicamente segura.

El esfuerzo está impulsado por el creciente número de demandas de patentes en curso en muchas regiones del mundo, según Stefan Lange, gerente de equipo y líder del proyecto IP-Schutz en Fraunhofer CSP. 

“Hoy en día, es posible fabricar células y módulos fotovoltaicos de forma rentable y altamente automatizada prácticamente en cualquier lugar, pero el desarrollo de nuevas tecnologías de células y módulos solares es una tarea costosa y que requiere mucho tiempo”, explicó Lange a pv magazine . “A menudo, las patentes solo se refieren a características microscópicas o nanoscópicas o a interfaces de película fina cuyas propiedades son difíciles de caracterizar”.

Las tecnologías fotovoltaicas, como los dispositivos de contacto pasivado de óxido de túnel (TOPCon), de heterojunción de silicio (SHJ) y de contacto posterior interdigitado (IBC), exigen métodos de análisis más sofisticados con mayor resolución espacial y sensibilidad de medición, según Lange.

Algunas de las tecnologías de medición no destructiva y métodos de preparación de áreas grandes relevantes que utilizará Fraunhofer CSP son el pulido de plasma y la ablación por láser pulsado, pero también el tiempo de vuelo-SIMS (ToF-SIMS), la microscopía electrónica de transmisión (TEM) y la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) para examinar las interfaces celulares, las vías de corriente microscópicas y las capas de pasivación.

Lange señaló que este tipo de investigación se diferencia de la investigación y el desarrollo (I+D) convencionales porque los métodos tienen que adaptarse para ajustarse a las muestras de módulos comerciales, en lugar de lo contrario. 

“En Fraunhofer CSP ya contamos con una experiencia considerable en servicios de I+D, como el análisis de células de módulos comerciales, la redacción de informes técnicos y opiniones de expertos, todo ello con seguridad jurídica”, afirmó, añadiendo que la documentación es más extensa y exhaustiva que en el soporte típico de I+D, y no hay margen de error.

Junto con su socio de investigación, la Universidad de Ciencias Aplicadas de Anhalt, el Fraunhofer CSP ya ha estado recopilando información y muestras de materiales de socios industriales para comprender sus necesidades relacionadas con las patentes.